Información Básica
Nombre: Jian Hu
Institución: National University of Defense Technology
Registro: 2019-06-24
Puntuación: 629
Conferencias Seguidas
CCF | CORE | QUALIS | Abreviación | Nombre Completo | Entrega | Notificación | Conferencia |
---|---|---|---|---|---|---|---|
CSAE | International Conference on Computer Science and Application Engineering | 2023-07-20 | 2023-10-17 | ||||
c | a | a2 | CASES | International Conference on Compilers, Architectures, and Synthesis for Embedded Systemsing | 2023-03-16 | 2023-06-30 | 2023-09-17 |
ICISCA | International Conference of Information Science and Computer Applications | 2022-07-20 | 2022-07-25 | 2022-09-23 | |||
AUTEEE | IEEE International Conference on Automation, Electronics and Electrical Engineering | 2020-08-30 | 2020-09-15 | 2020-11-20 |
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Abreviación | Nombre Completo | Entrega | Conferencia |
---|---|---|---|
CSAE | International Conference on Computer Science and Application Engineering | 2023-07-20 | 2023-10-17 |
CASES | International Conference on Compilers, Architectures, and Synthesis for Embedded Systemsing | 2023-03-16 | 2023-09-17 |
ICISCA | International Conference of Information Science and Computer Applications | 2022-07-20 | 2022-09-23 |
AUTEEE | IEEE International Conference on Automation, Electronics and Electrical Engineering | 2020-08-30 | 2020-11-20 |
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Conferencias Asistidas
CCF | CORE | QUALIS | Abreviación | Nombre Completo | Conferencia | Ubicación |
---|---|---|---|---|---|---|
No se encontraron resultados. |
Nombre Completo | Conferencia | Ubicación |
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Revistas Seguidas
CCF | Nombre Completo | Factor de Impacto | Editor | ISSN |
---|---|---|---|---|
Electronic Notes in Theoretical Computer Science | Elsevier | 1571-0661 | ||
c | Integration, the VLSI Journal | 2.200 | Elsevier | 0167-9260 |
c | Future Generation Computer Systems | 6.200 | Elsevier | 0167-739X |
c | Journal of Electronic Testing: Theory and Applications | 1.100 | Springer | 0923-8174 |
Nombre Completo | Factor de Impacto | Editor |
---|---|---|
Electronic Notes in Theoretical Computer Science | Elsevier | |
Integration, the VLSI Journal | 2.200 | Elsevier |
Future Generation Computer Systems | 6.200 | Elsevier |
Journal of Electronic Testing: Theory and Applications | 1.100 | Springer |
Investigadores Seguidos
Nombre | Institución | Registro | Puntuación |
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No se encontraron resultados. |
Nombre | Institución | Puntuación |
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No se encontraron resultados. |
Trabajos rastreados
Título profesional | Empleadora | locación de trabajo |
---|---|---|
No se encontraron resultados. |
Título profesional | Empleadora | locación de trabajo |
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No se encontraron resultados. |
Conferencias vistas
CCF | CORE | QUALIS | Abreviación | Nombre Completo | Entrega | Notificación | Conferencia |
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No se encontraron resultados. |
Abreviación | Nombre Completo | Entrega | Conferencia |
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No se encontraron resultados. |
Revistas vistos
CCF | Nombre Completo | Factor de Impacto | Editor | ISSN |
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No se encontraron resultados. |
Nombre Completo | Factor de Impacto | Editor |
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No se encontraron resultados. |